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科研机构
高能物理研究所 [7]
内容类型
期刊论文 [7]
发表日期
2010 [2]
2008 [1]
2006 [1]
2005 [1]
2002 [1]
1998 [1]
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学科主题
Physics [7]
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学科主题:Physics
内容类型:期刊论文
专题:高能物理研究所
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Lepton-number-violating decays of singly-charged Higgs bosons in the type-(I plus II) seesaw model
期刊论文
CHINESE PHYSICS C, 2010, 卷号: 34, 期号: 4, 页码: 433-443
作者:
Ren P(任凭)
;
Xing ZZ(邢志忠)
;
Ren, P
;
Xing, ZZ
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2016/06/28
type-(I plus II) seesaw model
Higgs triplet
lepton number violation
Testing the realistic seesaw model with two heavy Majorana neutrinos at the CERN Large Hadron Collider
期刊论文
PHYSICS LETTERS B, 2010, 卷号: 683, 期号: 1, 页码: #REF!
作者:
Chao W(晁伟)
;
Chao, W
;
Si, ZG
;
Zheng, YJ
;
Zhou, S
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2016/04/11
Interference bands in decays of doubly-charged Higgs bosons to dileptons in the minimal type-II seesaw model at the TeV scale
期刊论文
PHYSICS LETTERS B, 2008, 卷号: 666, 期号: 1, 页码: #REF!
作者:
Ren P(任凭)
;
Xing ZZ(邢志忠)
;
Ren, P
;
Xing, ZZ
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2016/04/11
Measurement of the exclusive light hadron decays of the psi '' in e(+)e(-) experiments
期刊论文
INTERNATIONAL JOURNAL OF MODERN PHYSICS A, 2006, 卷号: 21, 期号: 25, 页码: 5163-5185
作者:
王平(实)
;
Mo XH(莫晓虎)
;
Yuan ZZ(苑长征)
;
Wang, P
;
Mo, XH
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2016/06/29
psi '' exclusive decay
interference
Monte Carlo simulation
e(+)e(-) experiment
Thickness analysis for thin-film by glazing exit X-ray fluorescence with synchrotron radiation source
期刊论文
HIGH ENERGY PHYSICS AND NUCLEAR PHYSICS-CHINESE EDITION, 2005, 卷号: 29, 期号: 11, 页码: 1104-1106
作者:
Gong, Y
;
Chen, B
;
Ni, QL
;
Cui, MQ
;
Zhao, YD
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2016/06/29
synchrotron radiation source
glazing exit
X-ray fluorescence
thin film
X-ray optics 'Owl' and 'Trinity'
期刊论文
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS, 2002, 卷号: 41, 期号: 7A, 页码: 4742-4749
作者:
Ando, M
;
Hyodo, K
;
Sugiyama, H
;
Maksimenko, A
;
Pattanasiriwisawa, W
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浏览/下载:35/0
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提交时间:2016/06/29
X-ray dark-field imaging
asymmetric reflection monochromator
analyzer
refraction contrast
X-ray bright-field imaging
vertical wiggler
synchrotron X-radiation
Fz grown silicon
crystal diffraction index
crystal thickness
X-ray analysis of light elements by monochromatic light
期刊论文
HIGH ENERGY PHYSICS AND NUCLEAR PHYSICS-CHINESE EDITION, 1998, 卷号: 22, 期号: 4, 页码: 378-382
作者:
Liu SJ(刘世杰)
;
Hu CH(胡朝晖)
;
Yao Y(姚英)
;
Wang DW(王德武)
;
Liu, SJ
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2016/06/27
monochromatic light
X-ray fluorescence analysis
sensitivity
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