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科研机构
半导体研究所 [4]
内容类型
期刊论文 [4]
发表日期
2006 [1]
2001 [2]
1998 [1]
学科主题
半导体物理 [4]
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学科主题:半导体物理
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Dependence of intrinsic defects in ZnO films on oxygen fraction studied by positron annihilation
期刊论文
chinese physics letters, 2006, 卷号: 23, 期号: 2, 页码: 489-492
Peng CX
;
Weng HM
;
Yang XJ
;
Ye BJ
;
Cheng B
;
Zhou XY
;
Han RD
收藏
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提交时间:2010/04/11
P-TYPE ZNO
THIN-FILMS
ROOM-TEMPERATURE
PHOTOLUMINESCENCE
DEPOSITION
SUBSTRATE
VACANCIES
LAYER
BEAM
GAN
Growth and photoluminescence of epitaxial CeO2 film on Si (111) substrate
期刊论文
chinese physics letters, 2001, 卷号: 18, 期号: 3, 页码: 443-444
Gao F
;
Li GH
;
Zhang JH
;
Qin FG
;
Yao ZY
;
Liu ZK
;
Wang ZG
;
Lin LY
收藏
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浏览/下载:105/9
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提交时间:2010/08/12
OPTICAL-PROPERTIES
THIN-FILMS
DEPOSITION
EMISSION
LAYERS
Gap states of hydrogenated amorphous silicon near and above the threshold of microcrystallinity with subtle boron compensation
期刊论文
applied physics letters, 2001, 卷号: 78, 期号: 17, 页码: 2509-2511
Sheng SR
;
Liao XB
;
Kong GL
收藏
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浏览/下载:104/17
  |  
提交时间:2010/08/12
CONSTANT PHOTOCURRENT METHOD
A-SI-H
ABSORPTION
FILMS
SPECTROSCOPY
DEPOSITION
STABILITY
DILUTION
Study of microstructure of high stability hydrogenated amorphous silicon films by Raman scattering and infrared absorption spectroscopy
期刊论文
applied physics letters, 1998, 卷号: 73, 期号: 3, 页码: 336-338
Sheng SR
;
Liao XB
;
Kong GL
;
Han HX
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浏览/下载:50/0
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提交时间:2010/08/12
A-SI-H
CRYSTALLINE SILICON
DEPOSITION
SPECTRA
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