×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
半导体研究所 [8]
内容类型
期刊论文 [8]
发表日期
2008 [1]
2007 [1]
2006 [1]
2004 [1]
2002 [2]
1998 [1]
更多...
学科主题
半导体材料 [8]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共8条,第1-8条
帮助
限定条件
学科主题:半导体材料
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
QtUCP-A program for determining unit-cell parameters in electron diffraction experiments using double-tilt and rotation-tilt holders
期刊论文
ultramicroscopy, 2008, 卷号: 108, 期号: 12, 页码: 1540-1545
Zhao HS
;
Wu DQ
;
Yao JC
;
Chang AM
收藏
  |  
浏览/下载:47/0
  |  
提交时间:2010/03/08
Electron diffraction
Spatial variation of optical and structural properties of ELO GaN directly grown on patterned sapphire by HVPE
期刊论文
journal of physics d-applied physics, 2007, 卷号: 40, 期号: 9, 页码: 2881-2885
作者:
Wei TB
;
Duan RF
收藏
  |  
浏览/下载:34/0
  |  
提交时间:2010/03/29
VAPOR-PHASE EPITAXY
Electrical properties of B-doped polycrystalline silicon thin films prepared by rapid thermal chemical vapour deposition
期刊论文
thin solid films, 2006, 卷号: 497, 期号: 1-2, 页码: 157-162
Ai B
;
Shen H
;
Liang ZC
;
Chen Z
;
Kong GL
;
Liao XB
收藏
  |  
浏览/下载:49/0
  |  
提交时间:2010/04/11
chemical vapour deposition
electrical properties and measurements
scanning electron microscopy
polycrystalline silicon
GRAIN-BOUNDARIES
STATES
Depth distribution of the strain in the GaN layer with low-temperature AlN interlayer on Si(111) substrate studied by Rutherford backscattering/channeling
期刊论文
applied physics letters, 2004, 卷号: 85, 期号: 23, 页码: 5562-5564
Lu, Y
;
Cong, GW
;
Liu, XL
;
Lu, DC
;
Wang, ZG
;
Wu, MF
收藏
  |  
浏览/下载:21/0
  |  
提交时间:2010/03/17
STRESS
Crystallographic tilt in GaN layers grown by epitaxial lateral overgrowth
期刊论文
science in china series a-mathematics physics astronomy, 2002, 卷号: 45, 期号: 11, 页码: 1461-1467
作者:
Zhao DG
收藏
  |  
浏览/下载:69/0
  |  
提交时间:2010/08/12
GaN
epitaxial lateral overgrowth
crystallographic tilt
double crystal X-ray diffraction
FILMS
DEFECTS
GAAS
Investigation on the origin of crystallographic tilt in lateral epitaxial overgrown GaN using selective etching
期刊论文
journal of crystal growth, 2002, 卷号: 240, 期号: 3-4, 页码: 368-372
作者:
Zhao DG
收藏
  |  
浏览/下载:63/0
  |  
提交时间:2010/08/12
X-ray diffraction
etching
metalorganic vapor-phase epitaxy
nitrides
semiconducting III-V materials
LIGHT-EMITTING-DIODES
VAPOR-PHASE EPITAXY
FILMS
DISLOCATIONS
DENSITY
GROWTH
LAYERS
Triclinic deformation and anisotropic strain relaxation of an InAs film on a GaAs(001) substrate measured by a series of symmetric double crystal X-ray diffraction
期刊论文
journal of crystal growth, 1998, 卷号: 191, 期号: 4, 页码: 627-630
Wang HM
;
Zeng YP
;
Zhou HW
;
Kong MY
收藏
  |  
浏览/下载:53/0
  |  
提交时间:2010/08/12
MOLECULAR-BEAM EPITAXY
HALL ELEMENTS
GAAS
MISORIENTATION
DISTORTION
LAYERS
MBE
SI
HETEROSTRUCTURES
GROWTH
A theoretical model for the tilt of the GaAs/Si epilayers
期刊论文
journal of crystal growth, 1997, 卷号: 178, 期号: 3, 页码: 276-279
Hao MS
;
Shao CL
;
Soga T
;
Jimbo T
;
Umeno M
;
Liang JW
收藏
  |  
浏览/下载:13/0
  |  
提交时间:2010/11/17
GaAs/Si
tilt
MISORIENTATION
EPITAXY
SI(001)
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace