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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：2020     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Cross stacking faults in Zr(Fe,Cr)(2) face-centered cubic Laves phase nanoparticle 期刊论文 APPLIED SURFACE SCIENCE, 2020, 卷号: 513, 页码: 7 作者:  Yuan, Fusen;  Li, Geping;  Liu, Chengze;  Han, Fuzhou;  Zhang, Yingdong 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2021/02/02 Cross stacking faults  Face-centered cubic structure  Nanoparticle  Driving force   Cross stacking faults in Zr(Fe,Cr)(2) face-centered cubic Laves phase nanoparticle 期刊论文 APPLIED SURFACE SCIENCE, 2020, 卷号: 513, 页码: 7 作者:  Yuan, Fusen;  Li, Geping;  Liu, Chengze;  Han, Fuzhou;  Zhang, Yingdong 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2021/02/02 Cross stacking faults  Face-centered cubic structure  Nanoparticle  Driving force   Influence of additives on electroplated copper films and shear strength of SAC305/Cu solder joints 期刊论文 JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS, 2020, 卷号: 31, 期号: 3, 页码: 2320-2330 作者:  Zhang, Xudong;  Hu, Xiaowu;  Jiang, Xiongxin;  Zhou, Liuru;  Li, Qinglin 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2020/06/16 Additives  Atomic force microscopy  Binary alloys  Chlorine compounds  Copper  Copper compounds  Electron probe microanalysis  Electrons  High resolution transmission electron microscopy  Metallic films  Scanning electron microscopy  Tin alloys  Tin metallography  X ray photoelectron spectroscopy  Crystallographic orientations  Electron back scatter diffraction  Electroplated copper film  Electroplated Cu films  Impurity incorporation  Micro-structural characterization  Microstructural instability  Plating solutions