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一种基于红外探测器质子位移效应的低温辐照试验测试方法 专利
申请日期: 2020-06-19,
作者:  周东;  李豫东;  文林;  冯捷;  郭旗
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一种基于紫外探测器质子位移效应的辐照试验测试方法 专利
申请日期: 2020-03-24,
作者:  周东;  冯婕;  李豫东;  文林;  郭旗
收藏  |  浏览/下载:8/0  |  提交时间:2020/11/25


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