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偏置条件对国产SiGe BiCMOS器件总电离辐射效应的影响 期刊论文
辐射研究与辐射工艺学报, 2020, 卷号: 38, 期号: 5, 页码: 64-70
作者:  王利斌;  王信;  吴雪;  李小龙;  刘默寒
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电离总剂量效应对4T CMOS图像传感器暗电流影响的数值仿真 期刊论文
数值计算与计算机应用, 2020, 卷号: 41, 期号: 2, 页码: 143-150
作者:  魏莹;  文林;  李豫东;  郭旗
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