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近代物理研究所 [4]
内容类型
期刊论文 [4]
发表日期
2019 [4]
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发表日期:2019
专题:近代物理研究所
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SEU tolerance improvement in 22 nm UTBB FDSOI SRAM based on a simple 8T hardened cell
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 100, 页码: 6
作者:
Cai, C.
;
Zhao, P. X.
;
Xu, L. W.
;
Liu, T. Q.
;
Li, D. Q.
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浏览/下载:25/0
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提交时间:2022/01/19
UTBB FDSOI
Radiation hardened
8T
SRAM
Single event upset
Total Ionizing Dose Influence on the Single-Event Multiple-Cell Upsets in 65-nm 6-T SRAM
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2019, 卷号: 66, 期号: 6, 页码: 892-898
作者:
Zheng, Qiwen
;
Cui, Jiangwei
;
Lu, Wu
;
Guo, Hongxia
;
Liu, Jie
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浏览/下载:80/0
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提交时间:2019/11/10
Single-event multiple-cell upsets (MCUs)
static random access memory
total ionizing dose (TID)
A genome-wide view of mutations in respiration-deficient mutants of Saccharomyces cerevisiae selected following carbon ion beam irradiation
期刊论文
APPLIED MICROBIOLOGY AND BIOTECHNOLOGY, 2019, 卷号: 103, 页码: 1851-1864
作者:
Guo, Xiaopeng
;
Zhang, Miaomiao
;
Gao, Yue
;
Cao, Guozhen
;
Yang, Yang
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浏览/下载:71/0
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提交时间:2019/04/02
Saccharomyces cerevisiae
Carbon ion beam irradiation
Respiration-deficient mutants
Genome-wide resequencing
Molecular mutation spectrum
Mitochondrial genome
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