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长春光学精密机械与物... [1]
内容类型
期刊论文 [6]
会议论文 [1]
发表日期
2018 [7]
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发表日期:2018
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A fast read retry method for 3D NAND flash memories using novel valley search algorithm
期刊论文
IEICE Electronics Express, 2018
作者:
Huo ZL(霍宗亮)
;
Xu QK(徐启康)
;
Wang Q(王颀)
;
Li QH(李前辉)
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浏览/下载:35/0
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提交时间:2019/05/22
A 12V Low-Ripple and High-Efficiency Charge Pump with Continuous Regulation Scheme for 3D NAND Flash Memories
会议论文
作者:
Huo ZL(霍宗亮)
;
Huang CC(黄策策)
;
Fu LY(付丽银)
;
Liu F(刘飞)
;
Wang QQ(王乾乾)
收藏
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2019/05/16
Influences of total ionizing dose on single event effect sensitivity in floating gate cells
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2018, 卷号: 27, 期号: 8, 页码: 086103
作者:
Zhao, Pei-Xiong
;
Liu, Tian-Qi
;
Ye, Bing
;
Luo, Jie
;
Sun, You-Mei
收藏
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浏览/下载:35/0
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提交时间:2018/10/08
flash memories
heavy ions
synergistic effect
total ionizing dose
Anomalous annealing of floating gate errors due to heavy ion irradiation
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2018, 卷号: 418, 页码: 80-86
作者:
Hou, Mingdong
;
Zhao, Peixiong
;
Luo, Jie
;
Ji, Qinggang
;
Ye, Bing
收藏
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浏览/下载:57/0
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提交时间:2018/05/31
Annealing
Flash memories
Heavy ions
Multiple cell upsets
Radiation effects
DLV: Exploiting Device Level Latency Variations for Performance Improvement on Flash Memory Storage Systems
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2018, 卷号: 37, 页码: 1546-1559
作者:
Cui, Jinhua
;
Zhang, Youtao
;
Wu, Weiguo
;
Yang, Jun
;
Wang, Yinfeng
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/11/26
low-density parity-check code (LDPC)
Flash memories
retention age (RA)
raw bit error rate (RBER)
out-of-order scheduler
process variation (PV)
Improving Write Performance and Extending Endurance of Object-Based NAND Flash Devices
期刊论文
ACM TRANSACTIONS ON EMBEDDED COMPUTING SYSTEMS, 2018, 卷号: 17, 期号: 1,SI
作者:
Guo, Jie[1]
;
Min, Chuhan[2]
;
Cai, Tao[3]
;
Chen, Yiran[4]
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/12/24
NAND flash memories
write amplification
performance
Transparency Engineering in Quantum Dot-Based Memories
期刊论文
Physica Status Solidi a-Applications and Materials Science, 2018, 卷号: 215, 期号: 13, 页码: 7
作者:
Arikan, I. F.
;
Cottet, N.
;
Nowozin, T.
;
Bimberg, D.
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2019/09/17
band engineering
memory
quantum dots
resonant tunnel
resonant-tunneling current
dependence
Materials Science
Physics
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