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半导体器件及其制造方法 专利
专利号: CN201210293525.X, 申请日期: 2018-09-14, 公开日期: 2014-02-19
作者:  马小龙;  殷华湘;  付作振
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一种MOSFET结构及其制造方法 专利
专利号: CN201310477078.8, 申请日期: 2018-06-19, 公开日期: 2015-04-29
作者:  尹海洲
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隧穿场效应晶体管及其制造方法 专利
专利号: CN201310315051.9, 申请日期: 2018-01-30, 公开日期: 2015-02-11
作者:  朱正勇;  朱慧珑;  许淼
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