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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2018    专题：西安交通大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Performance Investigation of VCSEL-Based Voltage Probe and Its Applications to HPEM Effects Diagnosis of Embedded Systems 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY, 2018, 卷号: 60, 页码: 1923-1931 作者:  Yan, Junkai;  Wang, Jianguo;  Tang, Chuanxiang;  Liu, Xiaolong;  Yang, Meng 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2019/11/19 voltage probe  embedded system  Bit error rate (BER)  high-power electromagnetic (HPEM)  vertical-cavity surface-emitting laser (VCSEL)   VCSEL-Based In-Circuit Status-Monitoring and Effects-Diagnosis Method for HPEM Susceptibility Test on Digital Electronic Equipment 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY, 2018, 卷号: 60, 页码: 234-242 作者:  Yan, Junkai;  Wang, Jianguo;  Tang, Chuanxiang;  Liu, Xiaolong;  Yang, Meng 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/11/26 status monitor  Effects diagnosis  high-power electromagnetic (HPEM) susceptibility test  electronic equipment  vertical-cavity surface-emitting laser (VCSEL)