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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2017     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 纳米PMOSFET负偏压温度不稳定性测试方法 期刊论文 固体电子学研究与进展, 2017, 卷号: 37, 期号: 6, 页码: 433-437 作者:  崔江维;  郑齐文;  余徳昭;  周航;  苏丹丹 收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2018/01/18 纳米器件  P沟道金属氧化物半导体场效应晶体管  负偏压温度不稳定性