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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2016    专题：北京航空航天大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A process-variation-resilient methodology of circuit design by using asymmetrical forward body bias in 28 nm FDSOI 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2016, 卷号: 64, 页码: 26-30 作者:  Wang, Y.;  Cai, H.;  Naviner, L. A. B.;  Zhao, X. X.;  Zhang, Y. 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/30 Process variation  Variability analysis  Magnetic flip-flop  Asymmetrical forward body bias  FDSOI   A process-variation-resilient methodology of circuit design by using asymmetrical forward body bias in 28 nm FDSOI 会议论文 27th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Halle, GERMANY, 2016-09-01 作者:  Wang, Y.;  Cai, H.;  Naviner, L. A. B.;  Zhao, X. X.;  Zhang, Y. 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/30 Process variation  Variability analysis  Magnetic flip-flop  Asymmetrical forward body bias  FDSOI