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科研机构
北京航空航天大学 [6]
内容类型
会议论文 [4]
期刊论文 [2]
发表日期
2015 [6]
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发表日期:2015
专题:北京航空航天大学
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Design of Reliability Qualification Test for an Underwater Electronic Device Based on Arrhenius Formula
会议论文
2015 PROGNOSTICS AND SYSTEM HEALTH MANAGEMENT CONFERENCE (PHM), 2015-01-01
作者:
Li, Qi
;
Wu, Sa
;
Zhang, Qian
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提交时间:2020/01/06
accelerated test
Arrhenius
temperature stress
design of test
Method of reliability computer simulation assessment for microelectronic device under multi-failure mechanism
会议论文
COMPUTING, CONTROL, INFORMATION AND EDUCATION ENGINEERING, 2015-01-01
作者:
Wan, B.
;
Fu, G. C.
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提交时间:2020/01/06
Computer Simulation
Reliability
Physics of failure
Reliability evaluation of microelectronic device based on PoF
期刊论文
Metallurgical and Mining Industry, 2015, 卷号: 7, 页码: 165-174
作者:
Wan, Bo
;
Fu, Guicui
;
Zhao, Youhu
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提交时间:2020/01/06
Low-power MicroV(rms) noise neural spike detector for implantable interface microsystem device
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2015, 卷号: 55, 页码: 807-814
作者:
Li, Hongge
;
Bai, Huixin
;
Xu, Qicheng
;
Xia, Tongsheng
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提交时间:2020/01/06
Biopotential detector
NEO algorithms
Ultra-low-power
Sub-threshold
Low noise
A Research for Influence of Temperature on T/R Module in Radar
会议论文
2015 PROGNOSTICS AND SYSTEM HEALTH MANAGEMENT CONFERENCE (PHM), 2015-01-01
作者:
Zhong, Ling
;
Fu, Guicui
;
Lu, Jiale
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提交时间:2020/01/06
T/R module
solid-state microwave power device
temperature
behavioral model
operational reliability
Mechanical analysis of reliability test device of head-up display��s retraction and extension
会议论文
International Conference on Mechatronics Engineering and Electrical Engineering, CMEEE 2014, Sanya, Hainan, China, 2014-10-17
作者:
Liu, Y.G.
;
Wang, Y.X.
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提交时间:2020/01/06
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