CORC  > 北京航空航天大学
Mechanical analysis of reliability test device of head-up display��s retraction and extension
Liu, Y.G.; Wang, Y.X.
2015
会议名称International Conference on Mechatronics Engineering and Electrical Engineering, CMEEE 2014
会议日期2014-10-17
会议地点Sanya, Hainan, China
页码147-150
收录类别EI
URL标识查看原文
内容类型会议论文
URI标识http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6547296
专题北京航空航天大学
推荐引用方式
GB/T 7714
Liu, Y.G.,Wang, Y.X.. Mechanical analysis of reliability test device of head-up display��s retraction and extension[C]. 见:International Conference on Mechatronics Engineering and Electrical Engineering, CMEEE 2014. Sanya, Hainan, China. 2014-10-17.
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