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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2011     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Optimization of the Test Stress Levels of an ADT 会议论文 ANNUAL RELIABILITY AND MAINTAINABILITY SYMPOSIUM (RAMS), 2011 PROCEEDINGS, 2011-01-01 作者:  Zhang, Jing-Rui;  Li, Xiao-Yang;  Jiang, Tong-Min;  Ge, Zheng-Zheng 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2020/01/06 accelerated degradation test  step stress  optimal design  Monte Carlo simulation  sensitive analysis   APPLIED RESEARCH OF ACCELERATED DEGRADATON TEST FOR DTG 会议论文 2011 INTERNATIONAL CONFERENCE ON INSTRUMENTATION, MEASUREMENT, CIRCUITS AND SYSTEMS ( ICIMCS 2011), VOL 1: INSTRUMENTATION, MEASUREMENT, CIRCUITS AND SYSTEMS, 2011-01-01 作者:  Liang Yuan;  Chen Yunxia;  Kang Rui 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2020/01/06 DTG  ADT  Performance Degradation  Temperature Stress