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	APPLIED RESEARCH OF ACCELERATED DEGRADATON TEST FOR DTG
	Liang Yuan; Chen Yunxia; Kang Rui
	2011
会议名称	2011 INTERNATIONAL CONFERENCE ON INSTRUMENTATION, MEASUREMENT, CIRCUITS AND SYSTEMS ( ICIMCS 2011), VOL 1: INSTRUMENTATION, MEASUREMENT, CIRCUITS AND SYSTEMS
会议日期	2011-01-01
关键词	DTG ADT Performance Degradation Temperature Stress
页码	439-442
收录类别	CPCI-S
URL标识	查看原文
WOS记录号	WOS:000306295500098
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6585716
专题	北京航空航天大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Liang Yuan,Chen Yunxia,Kang Rui. APPLIED RESEARCH OF ACCELERATED DEGRADATON TEST FOR DTG[C]. 见:2011 INTERNATIONAL CONFERENCE ON INSTRUMENTATION, MEASUREMENT, CIRCUITS AND SYSTEMS ( ICIMCS 2011), VOL 1: INSTRUMENTATION, MEASUREMENT, CIRCUITS AND SYSTEMS. 2011-01-01.

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