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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：2011     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 一种集成电路缺陷的光学检测方法和装置 专利 专利号: CN103018202A, 申请日期: 2011-09-22, 公开日期: 2012-11-20, 2013-04-03 作者:  陈鲁 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2012/11/20 AAO膜的光反射非对称效应及AAO模板法制备Si、Ge纳米结构 学位论文 2011, 2011 李阳娟 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2016/02/14 阳极氧化铝  光反射非对称性  Si基纳米结构  图形衬底  Ge岛  anodized aluminum  asymmetric light reflectance effect  Si-based nanostructures  patterned substrate  Ge islands   LDO线性稳压器的设计与仿真 学位论文 2011, 2010 史振江 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2016/02/14 LDO线性电源稳压器  带隙基准  误差放大器  LDO  bandgap reference  error amplifier