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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 发表日期：2010     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Thickness measurement of GaN films by X-ray diffraction 期刊论文 2010, 2010 Li Hong-Tao; Luo Yi; Xi Guang-Yi; Wang Lai; Jiang Yang; Zhao Wei; Han Yan-Jun; Hao Zhi-Biao; Sun Chang-Zheng 收藏  |  浏览/下载：4/0 Preparation and characterization of patterned copper sulfide thin films on n-type tio2 film surfaces 期刊论文 Applied surface science, 2010, 卷号: 256, 期号: 23, 页码: 7316-7322 作者:  Lu, Yongjuan;  Yi, Gewen;  Jia, Junhong;  Liang, Yongmin 收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2019/05/10 Copper sulfide  Thin film  Micropattern  Characterization  Optical property   Deposition and characterization of AlN thin films on silicon 期刊论文 2010, 2010 Yu Yi; Ren Tianling; Liu Litian 收藏  |  浏览/下载：2/0 Preparation and characterization of patterned copper sulfide thin films on n-type TiO2 film surfaces 期刊论文 Applied Surface Science, 2010, 卷号: 256, 页码: 7316-7322 作者:  Yi GW(易戈文);  Jia JH(贾均红) 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2012/09/28 Copper sulfide  Thin film  Micropattern  Characterization  Optical property