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纳米梁上MOS电容衬底的压阻结构及检测方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN101251426, 申请日期: 2008-08-27, 公开日期: 2008-08-27
杨恒; 吴燕红; 成海涛; 王跃林
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HIRFL-CSRm电子冷却模拟与实验 学位论文
2008
冒立军
收藏  |  浏览/下载:12/0  |  提交时间:2010/01/24
平面酞菁弱取向外延薄膜的KPFM研究 学位论文
博士, 长春应用化学研究所: 中国科学院长春应用化学研究所, 2008
黄海超
收藏  |  浏览/下载:87/0  |  提交时间:2011/01/17


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