×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
半导体研究所 [2]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2007 [2]
学科主题
半导体材料 [2]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共2条,第1-2条
帮助
限定条件
发表日期:2007
学科主题:半导体材料
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
Columnar structures and stress relaxation in thick GaN films grown on sapphire by HVPE
期刊论文
chinese physics letters, 2007, 卷号: 24, 期号: 3, 页码: 822-824
Wei TB (Wei Tong-Bo)
;
Ma P (Ma Ping)
;
Duan RF (Duan Rui-Fei)
;
Wang JX (Wang Jun-Xi)
;
Li JM (Li Jin-Min)
;
Zeng YP (Zeng Yi-Ping)
收藏
  |  
浏览/下载:37/0
  |  
提交时间:2010/03/29
VAPOR-PHASE EPITAXY
Using different carrier gases to control AlN film stress and the effect on morphology, structural properties and optical properties
期刊论文
journal of physics d-applied physics, 2007, 卷号: 40, 期号: 23, 页码: 7462-7466
Hu, WG
;
Liu, XL
;
Jiao, CM
;
Wei, HY
;
Kang, TT
;
Zhang, PF
;
Zhang, RQ
;
Fan, HB
;
Zhu, QS
收藏
  |  
浏览/下载:55/4
  |  
提交时间:2010/03/08
VAPOR-PHASE EPITAXY
WURTZITE-TYPE CRYSTALS
THIN-FILMS
ALUMINUM NITRIDE
INTRINSIC STRESS
GAN
SAPPHIRE
AIN
DEPOSITION
STRAIN
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace