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科研机构
北京大学 [1]
内容类型
期刊论文 [1]
发表日期
2005 [1]
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发表日期:2005
专题:北京大学
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用深反应离子刻蚀和介质填充技术制造具有高深宽比的超深电隔离槽
期刊论文
半导体学报, 2005
朱泳
;
闫桂珍
;
王成伟
;
杨振川
;
范杰
;
周健
;
王阳元
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提交时间:2015/11/12
深反应离子刻蚀 电隔离槽 体微结构 单片集成 deep reactive ion etching electrical isolation trenches bulk microstructures monolithic integration
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