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BF+2注入硅栅p沟MOS场效应晶体管辐射感生界面陷阱测量 期刊论文
原子能科学技术, 2000, 期号: 4, 页码: 350-354
作者:  张正选;  罗晋生;  袁仁峰;  张廷庆;  姜景和
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