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VALENCE-BAND LINEUPS AT HIGHLY STRAINED SI-INP, GE-INAS, AND SI-GE INTERFACES 期刊论文
http://dx.doi.org/10.1016/0038-1098(94)00888-4, 1995
Ke, S. H.; Wang, R. Z.; Huang, M. C.; 黄美纯
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