| 基于软件缺陷知识的测试框架研究 | |
| 周庆; 余正伟 | |
| 刊名 | 测控技术
 |
| 2012 | |
| 卷号 | 31页码:134-138,142 |
| 关键词 | 测试框架 软件缺陷 灰盒测试 |
| ISSN号 | 1000-8829 |
| DOI | 10.3969/j.issn.1000-8829.2012.06.034 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 收录类别 | PKUISTICCSCD |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6577527 |
| 专题 | 北京航空航天大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 周庆,余正伟. 基于软件缺陷知识的测试框架研究[J]. 测控技术,2012,31:134-138,142. |
| APA | 周庆,&余正伟.(2012).基于软件缺陷知识的测试框架研究.测控技术,31,134-138,142. |
| MLA | 周庆,et al."基于软件缺陷知识的测试框架研究".测控技术 31(2012):134-138,142. |
| 个性服务 |
| 查看访问统计 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论