基于软件缺陷知识的测试框架研究 | |
周庆; 余正伟 | |
刊名 | 测控技术 |
2012 | |
卷号 | 31页码:134-138,142 |
关键词 | 测试框架 软件缺陷 灰盒测试 |
ISSN号 | 1000-8829 |
DOI | 10.3969/j.issn.1000-8829.2012.06.034 |
URL标识 | 查看原文 |
收录类别 | PKUISTICCSCD |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6577527 |
专题 | 北京航空航天大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 周庆,余正伟. 基于软件缺陷知识的测试框架研究[J]. 测控技术,2012,31:134-138,142. |
APA | 周庆,&余正伟.(2012).基于软件缺陷知识的测试框架研究.测控技术,31,134-138,142. |
MLA | 周庆,et al."基于软件缺陷知识的测试框架研究".测控技术 31(2012):134-138,142. |
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