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近代物理研究所 [3]
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期刊论文 [3]
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Preliminary single event effect distribution investigation on 28 nm SoC using heavy ion microbeam
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2019, 卷号: 450, 页码: 323-326
作者:
Yang, Weitao
;
Du, Xuecheng
;
Guo, Jinlong
;
Wei, Junze
;
Du, Guanghua
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提交时间:2019/11/10
Single event effect (SEE)
System on Chip (SoC)
Heavy ion microbeam
On-chip-memory (OCM)
8×8单元CsI(Tl)探测阵列研制;Development of 88 CsI(Tl) array detector
期刊论文
原子能科学技术, 2010, 卷号: 44, 期号: 03, 页码: 358-361
姚向武
;
杨彦云
;
王建松
;
黄美容
;
高启
;
郭忠言
;
肖国青
;
徐瑚珊
;
胡正国
;
余玉洪
;
仇浩
;
严鑫帅
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提交时间:2011/04/20
能量分辨
脉冲形状甄别
带电粒子
粒子鉴别
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