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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 内容类型：期刊论文    专题：新疆理化技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Influence of enhanced low dose rate sensitivity on single-event transient degradation in the LM158 bipolar operational amplifier 期刊论文 AIP ADVANCES, 2021, 卷号: 11, 期号: 5, 页码: 1-6 作者:  Xiang, CAF (Xiang, Chuanfeng) 1 , 2;  Yao, S (Yao, Shuai) 1 , 3;  Lu, W (Lu, Wu) 1 , 2;  Li, XL (Li, Xiaolong) 1;  Yu, X (Yu, Xin) 1 收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2021/08/06 Heavy ion-induced single event effects in active pixel sensor array 期刊论文 SOLID-STATE ELECTRONICS, 2019, 卷号: 152, 期号: 2, 页码: 93-99 作者:  Cai, YL (Cai, Yu-Long)[ 1,2,3 ];  Guo, Q (Guo, Qi)[ 1,2 ];  Li, YD (Li, Yu-Dong)[ 1,2 ];  Wen, L (Wen, Lin)[ 1,2 ];  Zhou, D (Zhou, Dong)[ 1,2 ] 收藏  |  浏览/下载：131/0  |  提交时间：2019/01/03 CMOS active pixel sensor (APS)  SEE  Heavy ion   Synergistic effect of total ionizing dose on single event effect induced by pulsed laser microbeam on SiGe heterojunction bipolar transistor 期刊论文 CHINESE PHYSICS B, 2018, 卷号: 27, 期号: 10, 页码: 1-10 作者:  Zhang, JX (Zhang, Jin-Xin)[ 1 ];  Guo, HX (Guo, Hong-Xia)[ 2,3 ];  Pan, XY (Pan, Xiao-Yu)[ 3 ];  Guo, Q (Guo, Qi)[ 2 ];  Zhang, FQ (Zhang, Feng-Qi)[ 3 ] 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2018/11/20 Sige Hbt  Synergistic Effect  Single Event Effects  Total Ionizing Dose   Total ionizing dose effects in pinned photodiode complementary metal-oxide-semiconductor transistor active pixel sensor 期刊论文 CHINESE PHYSICS B, 2018, 卷号: 27, 期号: 10, 页码: 1-5 作者:  Ma, LD (Ma, Lin-Dong)[ 1,2,3 ];  Li, YD (Li, Yu-Dong)[ 1,2 ];  Wen, L (Wen, Lin)[ 1,2 ];  Feng, J (Feng, Jie)[ 1,2 ];  Zhang, X (Zhang, Xiang)[ 1,2,3 ] 收藏  |  浏览/下载：45/0  |  提交时间：2018/11/20 Cmos Active Pixel Sensor  Dark Current  Quantum Efficiency