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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 专题：近代物理研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Single-event induced failure mode of PWM in DC/DC converter 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2020, 卷号: 114, 页码: 6 作者:  Gao, J.;  Li, C.;  Li, B.;  Li, B.;  Zhao, F. 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2021/12/13 Effectiveness and failure modes of error correcting code in industrial 65nm CMOS SRAMs exposed heavy ions 期刊论文 NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2014, 卷号: 25, 期号: 25, 页码: 0104051-0104056 作者:  Tong T(童腾) 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2014/12/17 Effectiveness and failure modes of error correcting code in industrial 65 um CMOS SRAMs exposed to heavy ions 期刊论文 NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2014, 卷号: 25 作者:  Tong Teng;  Wang Xiao-Hui;  Zhang Zhan-Gang;  Ding Peng-Cheng;  Liu Jie 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2018/07/05 Single Event Upsets (Seu)  Sram  Error Correcting Code (Ecc)  Hamming Code  Effectiveness  Failure Modes