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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 专题：沈阳自动化研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Extraction algorithm for longitudinal and transverse mechanical information of AFM 期刊论文 Nanotechnology and Precision Engineering, 2022, 卷号: 5, 期号: 2, 页码: 1-11 作者:  Hao, Chunxue;  Wang SJ(王守金);  Yuan S(袁帅);  (1,2);  Wu Boyu 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2022/06/07 Atomic force microscope  Peak force tapping  Torsional resonance  Mechanical characteristic measurement  Background subtraction algorithm  Coupled mechanical model   面向细胞机械特性检测的AFM探针快速定位方法 专利 专利类型: 发明, 专利号: CN103123362A, 申请日期: 2013-05-29, 公开日期: 2015-07-08 作者:  王越超;  刘连庆;  王智博;  董再励;  袁帅 收藏  |  浏览/下载：33/0  |  提交时间：2013/10/15 面向细胞机械特性检测的AFM探针快速定位方法 专利 专利类型: 发明授权, 专利号: CN103123362B, 申请日期: 2013-05-29, 公开日期: 2015-07-08 作者:  王越超;  刘连庆;  王智博;  董再励;  袁帅 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2015/10/19 Atomic Force Microscope-Based Nanorobotic System for Nanoassembly 专著章节/文集论文 出自: Nano Optoelectronic Sensors and Devices: Nanophotonics from Design to Manufacturing, Amsterdam, Netherlands, Amsterdam, Netherlands:Elsevier, Elsevier, 2011, 页码: 51-79 作者:  Liu LQ(刘连庆);  Xi N(席宁);  Li GY(李广勇);  Heping Chen 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2012/07/17 Atomic Force Microscope-Based Nanorobotic System for Nanoassembly 专著章节 出自: Nano Optoelectronic Sensors and Devices: Nanophotonics from Design to Manufacturing, Amsterdam, Netherlands:Elsevier, 2011, 页码: 51-79 作者:  Liu LQ(刘连庆);  Li GY(李广勇);  Heping Chen 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2012/07/17 AFM Operating-Drift Detection and Analyses based on Automated Sequential Image Processing 会议论文 7th IEEE Conference on Nanotechnology, Hong Kong, China, August 2-5, 2007 作者:  Zhan ZK(詹志坤);  Yang YL(杨永良);  Li WJ(李文荣);  Dong ZL(董再励);  Qu YL(曲艳丽) 收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2012/06/06 Atomic Force Microscopes (AFM)  automatic nanomanipulation  automated sequential image processing  manipulation drift