×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
西安交通大学 [7]
内容类型
学位论文 [6]
期刊论文 [1]
发表日期
2017 [1]
2016 [1]
2012 [1]
2011 [1]
2009 [2]
2008 [1]
更多...
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共7条,第1-7条
帮助
限定条件
专题:西安交通大学
第一署名单位
第一作者单位
通讯作者单位
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
基于广播和带解压缩电路的内建自测试方法研究与设计
学位论文
2017
作者:
闫丹
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2019/11/26
可测性设计
测试图形
故障覆盖率
低功耗
内建自测试
低功耗低成本内建自测试的测试生成方法研究
学位论文
2016
作者:
刘鹏飞
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2019/11/26
测试功耗
可测性设计
测试生成
故障覆盖率
存储器测试算法研究与可测性设计
学位论文
2012
作者:
张继荣
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2019/12/10
存储器测试内建自测试March 算法字内耦合故障动态故障
SoC芯片可测试性设计策略的实现研究
期刊论文
电路与系统学报, 2011, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 56-61
作者:
胡明明
;
王小力
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2019/12/10
测试时间优化
存储器内建自测试
测试控制
电熔丝
SoC芯片可测试性设计策略的研究与硬件实现
学位论文
2009
作者:
胡明明
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2019/12/18
测试控制测试时间优化存储器内建自测试电熔丝测试边界扫描
64位嵌入式RISC微处理器数据通路设计与可测试性设计研究
学位论文
2009
作者:
王宣明
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2019/12/18
数据通路桶式移位寄存器算术逻辑运算单元定点乘法器内建自测试转换故障
浮点处理单元算法研究与结构设计
学位论文
2008
作者:
梁峰
收藏
  |  
浏览/下载:9/0
  |  
提交时间:2019/12/18
浮点处理单元Booth 乘法器可测性设单输入跳变测试序列
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace