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科研机构
半导体研究所 [1]
内容类型
期刊论文 [1]
发表日期
1991 [1]
学科主题
半导体材料 [1]
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学科主题:半导体材料
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INVESTIGATION OF GAAS/SI MATERIAL BY X-RAY DOUBLE-CRYSTAL DIFFRACTION
期刊论文
journal of applied physics, 1991, 卷号: 70, 期号: 8, 页码: 4172-4175
LI CR
;
MAI ZH
;
CUI SF
;
ZHOU JM
;
WANG YT
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提交时间:2010/11/15
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