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科研机构
半导体研究所 [3]
内容类型
期刊论文 [3]
发表日期
2007 [1]
2006 [2]
学科主题
光电子学 [3]
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学科主题:光电子学
内容类型:期刊论文
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Influence of the AlN interlayer crystal quality on the strain evolution of GaN layer grown on Si (111)
期刊论文
applied physics letters, 2007, 卷号: 90, 期号: 1, 页码: art.no.011914
Liu W
;
Zhu JJ
;
Jiang S
;
Yang H
;
Wang JF
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提交时间:2010/03/29
CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION
Influence of cracks generation on the structural and optical properties of GaN/Al0.55Ga0.45N multiple quantum wells
期刊论文
applied surface science, 2006, 卷号: 252, 期号: 8, 页码: 3043-3050
作者:
Zhang SM
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浏览/下载:84/0
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提交时间:2010/04/11
nitrides
multiple quantum wells
cracks
dislocations
vacancies x-ray diffraction
X-RAY-DIFFRACTION
EDGE DISLOCATIONS
GAN
FILMS
SUPERLATTICES
RELAXATION
STRAIN
Investigation of a chemically treated InP(100) surface during hydrophilic wafer bonding process
期刊论文
materials science and engineering b-solid state materials for advanced technology, 2006, 卷号: 128, 期号: 1-3, 页码: 93-97
作者:
Yu LJ
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提交时间:2010/04/11
surface micro-roughness
contact angle
root-mean-square roughness
SILICON-WAFERS
ROUGHNESS
INP
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