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浏览/检索结果: 共7条，第1-7条 帮助 限定条件 学科主题：光学薄膜     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 鉴别用变方位角导模共振滤光片的设计 期刊论文 Chin. Opt. Lett., 2008, 卷号: 6, 期号: 10, 页码: 776, 778 张大伟; 袁丽萌; 陈家璧; 庄松林; 贺洪波 收藏  |  浏览/下载：1171/212  |  提交时间：2009/09/22 导模共振滤光片  鉴别用  方位角  共振  Azimuthal angles  Groove depths  Guided mode resonant filters  Illumination angles  Polarization modes  Reflectance peaks  Wave analyses   吸收杂质热辐射诱导光学薄膜破坏的热力机制 期刊论文 光学学报, 2008, 卷号: 28, 期号: 4, 页码: 809, 812 魏朝阳; 贺洪波; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：779/159  |  提交时间：2009/09/22 薄膜光学  Absorbing inclusion  吸收杂质  Laser induced damage  激光破坏  Optical elements  热辐射  Thermal irradiation  Thin film optics   4H-SiC基底Al_2O_3/SiO_2双层减反射膜的设计和制备 期刊论文 光学学报, 2008, 卷号: 28, 期号: 12, 页码: 2431, 2435 黄火林; 张峰; 吴正云; 齐红基; 姚建可; 范正修; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：1114/176  |  提交时间：2009/09/22 薄膜光学  Al2O3/SiO2双层减反射膜  电子束蒸发  4H-SiC基底  折射率  4H-SiC substrate  Al2O3/SiO2 double-layer anti-reflection coatings  Deposited layers  Electron beam evaporation  Layer coatings  Layer thicknesses  Physical thicknesses  Reference wavelengths  Reflection spectrums  Scanning electron microscopes  SEM images  Single layers  Thin film optics  UV optoelectronic devices  Wavelength selectivities   Mo原子溅射能量对Mo／Si薄膜微结构的影响 期刊论文 功能材料与器件学报, 2006, 卷号: 12, 期号: 2, 页码: 81, 85 秦俊岭; 易葵; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：695/143  |  提交时间：2009/09/22 Mo／Si  MoSi2  溅射能量   宽禁带氧化锌半导体薄膜的研究进展 期刊论文 激光与光电子学进展, 2005, 卷号: 42, 期号: 2, 页码: 41, 44,37 洪瑞金; 贺洪波; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：1044/118  |  提交时间：2009/09/22 宽禁带  半导体薄膜  氧化锌薄膜  化合物半导体  发光器件  禁带宽度  紫外光  波长  对应  蓝光  zinc oxide  functional thin films  UV emission   光波在具有柱状结构的双折射薄膜中的传输特性 期刊论文 激光技术, 2005, 卷号: 29, 期号: 6, 页码: 601, 603,607 王建国; 贺洪波; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：1015/132  |  提交时间：2009/09/22 薄膜  双折射  菲涅耳系数  相位关系   利用分光光度计测量光学晶体的折射率 期刊论文 中国激光, 2005, 卷号: 32, 期号: 12, 页码: 1678, 1682 谭天亚; 易葵; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：706/105  |  提交时间：2009/09/22 测量  折射率  分光光度计  LiB3O5晶体  偏振方向  measurement  refractive index  spectrophotometer  LiB3O5 crystal  polarization direction