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Proton beam intensity and proton fraction measurement of the 2.45 GHz ECR ion source
期刊论文
JOURNAL OF INSTRUMENTATION, 2020, 卷号: 15, 期号: 4, 页码: 11
作者:
Wei, X. B.
;
Li, G. P.
;
Pan, X. D.
;
Wu, Q.
;
Liu, Y. G.
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提交时间:2022/01/18
Ion sources (positive ions, negative ions, electron cyclotron resonance (ECR)
electron beam (EBIS))
Accelerator Subsystems and Technologies
Development of 2.45 GHz ECR ion sources at IMP
期刊论文
JOURNAL OF INSTRUMENTATION, 2019, 卷号: 14, 页码: 9
作者:
Wu, Q.
;
Liu, Y. G.
;
Liu, J. L.
;
Ma, H. Y.
;
Wu, J. Q.
收藏
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浏览/下载:59/0
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提交时间:2019/10/08
Accelerator Subsystems and Technologies
Ion sources (positive ions, negative ions, electron cyclotron resonance (ECR), electron beam (EBIS))
ECR sputtering and electron/ion alternative irradiation for multilayer carbon films fabrication with tunable layer thickness
期刊论文
SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY, 2016, 卷号: 296, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 26-32
作者:
Xue, Peidong
;
Yang, Lei
;
Diao, Dongfeng
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/12/02
Electron cyclotron resonance (ECR) sputtering
Tribological property
Electron/ion irradiation
Multilayer carbon film
Single layer thickness
Three-layered sandwich structured carbon film prepared by sputtering and ion/electron/ion alternative irradiation
期刊论文
SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY, 2015, 卷号: 278, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 12-17
作者:
Zhang, Wenlei
;
Diao, Dongfeng
;
Fan, Xue
收藏
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2019/12/02
Carbon film
Mechanical properties
Tribological properties
Electron cyclotron resonance (ECR) sputtering
Sandwich structure
Ion/electron/ion irradiation
Frictional behavior of nanostructured carbon films
期刊论文
FRICTION, 2013, 卷号: 1, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 63-71
作者:
Diao, Dongfeng
;
Wang, Chao
;
Fan, Xue
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/12/03
ion-electron hybrid irradiation
nanostructured carbon film (NCF)
electron cyclotron resonance (ECR)
friction
Overview of the Shanghai EBIT
期刊论文
JOURNAL OF INSTRUMENTATION, 2010, 卷号: 5, 页码: 10
作者:
Fu, Y.
;
Yao, K.
;
Wei, B.
;
Lu, D.
;
Hutton, R.
收藏
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2018/05/31
Ion sources (positive ions, negative ions, electron cyclotron resonance (ECR), electron beam (EBIS))
Plasma diagnostics - charged-particle spectroscopy
Ionization and excitation processes
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