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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序作者升序作者降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序 Characterization of down-state capacitance degradation in capacitive RF MEMS switch with rough dielectric layer 期刊论文 Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2017, 卷号: 10244, 页码: 102441W 作者:  Lei, Qiang;  Lei Q(雷强);  Gao, Yang;  Li, Jun-Ru;  Jia, Le 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/08/29 RF MEMS  capacitive switch  dielectric layer  roughness  latching  down-state capacitance  degradation   Characterization of down-state capacitance degradation in capacitive RF MEMS switch with rough dielectric layer 期刊论文 Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2017, 卷号: 10244, 页码: 102441W 作者:  Gao, Yang;  Li, Jun-Ru;  Jia, Le;  Lei, Qiang;  Lei Q(雷强) 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2019/08/27 RF MEMS  capacitive switch  dielectric layer  roughness  latching  down-state capacitance  degradation