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Island diodes triggering SCR in waffle layout with high failure current for HV ESD protection
期刊论文
SOLID-STATE ELECTRONICS, 2019, 卷号: 152, 页码: 17-23
作者:
Zheng, Yifei[1]
;
Jin, Xiangliang[2]
;
Wang, Yang[3]
;
Guan, Jian[4]
;
Hao, Sanwan[5]
收藏
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浏览/下载:37/0
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提交时间:2019/04/22
Electrostatic discharge
Waffle layout
Island diode triggering SCR
HV ESD protection
3-D device simulation
Failure current
A compact LDMOS DDSCR for HV ESD protections with high robustness and reliability
期刊论文
Solid-State Electronics, 2019, 卷号: Vol.161, 页码: 107640
作者:
Zhuojun Chen
;
Wenzhao Lu
;
Ming Wu
;
Wei Peng
;
Yuanyuan Hu
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/13
Dual-direction SCR (DDSCR)
Trigger voltage
Failure current
Electrostatic discharge (ESD)
Diode and RC Co-Triggered 2xVDD-Tolerant Electrostatic Discharge Detection Circuit in Nanoscale Complementary Metal-Oxide-Semiconductor Technology
期刊论文
2019, 卷号: 14, 页码: 734-739
作者:
Yang, Zhaonian
;
Yang, Yuan
;
Jing, Kai
;
Yu, Ningmei
;
Liou, Juin J.
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2019/12/20
Detection Circuit
Diode and RC Co-Triggered
Electrostatic Discharge (ESD)
2xVDD-Tolerant
Statically triggered 3 x VDD-Tolerant ESD detection circuit in a 90-nm low-voltage CMOS process
期刊论文
2018, 卷号: 78, 页码: 88-93
作者:
Yang, Zhaonian
;
Yang, Yuan
;
Yu, Ningmei
;
Liou, Juin J.
收藏
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浏览/下载:12/0
  |  
提交时间:2019/12/20
Bias circuit
Detection circuit
Electrostatic discharge (ESD)
Leakage current
Statically triggered
Impact of the Gate Structure on ESD Characteristic of Tunnel Field-Effect Transistors
会议论文
2018 7TH IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON NEXT-GENERATION ELECTRONICS (ISNE), 2018-01-01
作者:
Yang, Zhaonian
;
Yu, Ningmei
;
Liou, Juin J.
收藏
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浏览/下载:24/0
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提交时间:2019/12/20
electrostatic discharge (ESD)
electric field
gate structure
tunnel field-effect transistor (TFET)
2xVDD-Tolerant ESD Detection Circuit in a 90-nm Low-Voltage CMOS Process
会议论文
2018 7TH IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON NEXT-GENERATION ELECTRONICS (ISNE), 2018-01-01
作者:
Yang, Zhaonian
;
Zhang, Yue
;
Yu, Ningmei
;
Liou, Juin J.
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/12/20
detection circuit
electrostatic discharge (ESD)
2xVDD-tolerant
voltage triggered
Improving ESD Protection Robustness Using SiGe Source/Drain Regions in Tunnel FET
期刊论文
2018, 卷号: 9
作者:
Yang, Zhaonian
;
Yang, Yuan
;
Yu, Ningmei
;
Liou, Juin J.
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/12/20
band-to-band tunneling (BTBT)
electrostatic discharge (ESD)
tunnel field-effect transistor (TFET)
Silicon-Germanium source
drain (SiGe S
D)
technology computer aided design (TCAD)
Investigation of the Double Current Path Phenomenon in Gate-Grounded Tunnel FET
期刊论文
2018, 卷号: 39, 页码: 103-106
作者:
Yang, Zhaonian
;
Zhang, Yue
;
Yang, Yuan
;
Yu, Ningmei
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2019/12/20
Band-to-band tunneling (BTBT)
double current path
electrostatic discharge (ESD)
gate grounded tunnel field-effect transistor (ggTFET)
Insights Into the Power-Off and Power-On Transient Performance of Power-Rail ESD Clamp Circuits
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY, 2017
Lu, Guangyi
;
Wang, Yuan
;
Wang, Yize
;
Zhang, Xing
收藏
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2017/12/03
Electrostatic discharge (ESD)
ESD clamp circuit
transient response
soft failure
DESIGN
Low-Leakage ESD Power Clamp Design With Adjustable Triggering Voltage for Nanoscale Applications
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2017
Lu, Guangyi
;
Wang, Yuan
;
Wang, Yize
;
Zhang, Xing
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2017/12/03
Electrostatic discharge (ESD)
ESD power clamp
false-triggering immunity
leakage current
triggering voltage
TECHNOLOGY
PROTECTION
CIRCUITS
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