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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 总剂量辐射环境下微纳器件长期可靠性退化机理探究 学位论文 北京: 中国科学院大学, 2019 作者:  赵京昊 收藏  |  浏览/下载：239/0  |  提交时间：2019/07/15 电离总剂量辐射  热载流子效应  栅氧经时击穿  负偏置温度不稳定性   总剂量辐射环境下微纳器件长期可靠性退化机理探究 学位论文 中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2019 作者:  赵京昊 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2019/07/15 电离总剂量辐射  热载流子效应  栅氧经时击穿  负偏置温度不稳定性   星用超深亚微米CMOS器件辐射效应及其可靠性研究 学位论文 博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2012 作者:  崔江维 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2016/05/10 超深亚微米器件  总剂量辐射  热载流子效应  负偏置温度不稳定性  相互作用   星用超深亚微米CMOS器件辐射效应及其可靠性研究 学位论文 中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院研究生院, 2012 作者:  崔江维 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2016/05/10 超深亚微米器件  总剂量辐射  热载流子效应  负偏置温度不稳定性  相互作用   具有HfN/HfO_2栅结构的p型MOSFET中的负偏置-温度不稳定性研究 期刊论文 物理学报, 2006 萨宁; 康晋锋; 杨红; 刘晓彦; 张兴; 韩汝琦 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/11 高K栅介质  负偏置-温度不稳定性(NBTI)  反应-扩散(R-D)模型  high-K gate dielectric  negative bias temperature instability (NBTI)  reaction-diffusion (R-D) model