×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
成都理工大学 [2]
过程工程研究所 [1]
上海应用物理研究所 [1]
高能物理研究所 [1]
中国水产科学院 [1]
内容类型
期刊论文 [5]
学位论文 [1]
发表日期
2015 [1]
2013 [1]
1996 [1]
1989 [1]
1981 [1]
1980 [1]
更多...
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共6条,第1-6条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
上海光源光束线站TRXEOL方法的研究和实现
学位论文
博士: 中国科学院研究生院(上海应用物理研究所), 2015
作者:
张招红
收藏
  |  
浏览/下载:20/0
  |  
提交时间:2015/12/09
X射线激发发光光谱
时间分辨实验
单光子计数法
水产品中放射性铯检测技术的研究进展
期刊论文
食品工业科技, 2013, 卷号: 34, 期号: 17, 页码: 369-372,377
作者:
李宾[1]
;
周德庆[2]
;
陆地[3]
;
任义广[4]
;
耿金培[5]
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2020/01/02
铯
检测方法
直接γ能谱法
β射线计数法
用X射线荧光方法测定薄层、镀层和涂层厚度
期刊论文
1996, 卷号: 0, 期号: S5, 页码: 35-38
作者:
敖奇
;
曹利国
;
丁益民
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2019/12/09
薄层厚度测量
镀层厚度测量
X射线荧光方法
表层X射线荧光计数率法
底层X射线荧光吸收法
高纯氧化铝中杂质铁、钠、钾的X射线荧光法测定
期刊论文
光谱实验室, 1989, 期号: 05, 页码: 239-242
作者:
黄鑫泉
;
胡洁雪
;
李杜若
收藏
  |  
浏览/下载:9/0
  |  
提交时间:2014/08/27
荧光法测定
X射线荧光
杂质测定
自动荧光
中子活化法
激发源
测量条件
周期长
计数率
管流
应用共振吸收谱仪测量Al对γ射线的衰减系数
期刊论文
物理学报, 1981, 期号: 9, 页码: 1279-1283
作者:
王克斌
;
李士
;
唐孝威
收藏
  |  
浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2015/12/07
穆斯堡尔谱仪
γ射线
Al
衰减系数
共振吸收
光子能量
称量法
计数管
能量分辨率
误差范围
伽玛法在地质找矿工作中的应用
期刊论文
1980, 期号: 4, 页码: 50-56
作者:
华荣洲
;
刘彝筠
;
石柏慎
收藏
  |  
浏览/下载:0/0
  |  
提交时间:2019/12/09
半导体探测器
γ能谱
射线法
电子能量
盖革计数管
铀系
子体
玛法
侵入体
蚀变带
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace