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Minority-carrier exclusion model for circular spreading-resistance temperature sensor based on ultra-thin silicon on insulator (EI收录)
会议论文
2003 IEEE Conference on Electron Devices and Solid-State Circuits, EDSSC 2003, 22 Salisbury Road, Tsimshatsui, Kowloon, Hong kong, December 16, 2003 - December 18, 2003
作者:
Wu, Z.H.[1]
;
Lai, P.T.[1]
;
Li, Bin[2]
;
Liu, B.Y.[2]
;
Zheng, X.R.[2]
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提交时间:2019/04/19
Electron devices
Semiconductor doping
Silicon on insulator technology
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