×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
华南理工大学 [2]
成都中医药大学 [1]
内容类型
会议论文 [2]
期刊论文 [1]
发表日期
2019 [1]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共3条,第1-3条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
Removal of Co(II) from aqueous solution with functionalized metal-organic frameworks (MOFs) composite
期刊论文
2019, 卷号: 322, 期号: 2, 页码: 827-838
作者:
Yuan, Guoyuan[1,2]
;
Tian, Yin[3]
;
Li, Min[1]
;
Zeng, Yang[1]
;
Tu, Hong[1]
收藏
  |  
浏览/下载:16/0
  |  
提交时间:2019/12/16
Advanced Failure Analysis Techniques for SiP Defect Location and Mechanism Analysis (CPCI-S收录)
会议论文
2013 14TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRONIC PACKAGING TECHNOLOGY (ICEPT)
作者:
Lin, Na[1]
;
Chen, Yuan
;
Li, Guoyuan[1,2]
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2019/04/15
SiP
failure analysis
defect location
3D X-ray
LIT
FIB
Advanced failure analysis techniques for SiP defect location and mechanism analysis (EI收录)
会议论文
Proceedings - 2013 14th International Conference on Electronic Packaging Technology, ICEPT 2013, Dalian, China, August 11, 2013 - August 14, 2013
作者:
Lin, Na[1,2]
;
Chen, Yuan[2]
;
Li, Guoyuan[1]
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2019/04/15
Defects
Electronics packaging
Three dimensional
X ray microscopes
X rays
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace