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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Printed thin film transistors and CMOS inverters based on semiconducting carbon nanotube ink purified by a nonlinear conjugated copolymer 期刊论文 NANOSCALE, 2016, 卷号: 8, 页码: 4588-4598 作者:  Xu, Wenya[1];  Dou, Junyan[2];  Zhao, Jianwen[3];  Tan, Hongwei[4];  Ye, Jun[5] 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/04/26 Flexible CMOS-Like Circuits Based on Printed P-Type and N-Type Carbon Nanotube Thin-Film Transistors 期刊论文 SMALL, 2016, 卷号: 12, 页码: 5066-5073 作者:  Zhang, Xiang[1];  Zhao, Jianwen[2];  Dou, Junyan[3];  Tange, Masayoshi[4];  Xu, Weiwei[5] 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/04/26 N-type  flexible  polymer-sorted  printed circuits  thin-film transistors   Sorting semiconducting single walled carbon nanotubes by poly(9,9-dioctylfluorene) derivatives and application for ammonia gas sensing 期刊论文 CARBON, 2015, 卷号: 94, 页码: 903-910 作者:  Zhang, Xiang[1];  Zhao, Jianwen[2];  Tange, Masayoshi[3];  Xu, Wenya[4];  Xu, Weiwei[5] 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2019/04/30 Flexible logic circuits based on top-gate thin film transistors with printed semiconductor carbon nanotubes and top electrodes 期刊论文 NANOSCALE, 2014, 卷号: 6, 页码: 14891-14897 作者:  Xu, Weiwei[1];  Liu, Zhen[2];  Zhao, Jianwen[3];  Xu, Wenya[4];  Gu, Weibing[5] 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/04/30 Software Defect Prediction based on Conditional Random Field in Imbalance Distribution (CPCI-S收录) 会议 作者:  Yang, Chunhui[1,2];  Gao, Yan[2,3];  Xiang, Jianwen[1];  Liang, Lixin[4] 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2019/04/11 Software defect prediction  imbalance distribution  conditional random field  meanshift clustering method   Software Defect Prediction Based on Conditional Random Field in Imbalance Distribution (EI收录) 会议 Wuhan, Hubei, China, 作者:  Yang, Chunhui[1];  Gao, Yan[2];  Xiang, Jianwen[3];  Liang, Lixin[4] 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/04/11 Artificial intelligence  Cluster analysis  Defects  Forecasting  Internet  Internet of things  Learning systems  Software testing