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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序作者升序作者降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序 Experimental investigation on total-ionizing-dose radiation effects on the electrical properties of SOI-LIGBT 期刊论文 SOLID-STATE ELECTRONICS, 2021, 卷号: 175, 期号: 1, 页码: 1-7 作者:  Yang, GG (Yang, Guangan)[ 1 ];  Wu, WR (Wu, Wangran)[ 1 ];  Zhang, XY (Zhang, Xingyao)[ 2 ];  Tang, PY (Tang, Pengyu)[ 1 ];  Yang, J (Yang, Jing)[ 1 ] 收藏  |  浏览/下载：35/0  |  提交时间：2021/03/15 SOI-LIGBT  Total-ionizing-dose  Radiation  Degradation   Experimental Investigation of Ballistic Carrier Transport for Sub-100-nm Ge n-MOSFETs 期刊论文 IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2017 Cheng, Ran; Yin, Longxiang; Wu, Heng; Yu, Xiao; Zhang, Yanyan; Zheng, Zejie; Wu, Wangran; Chen, Bing; Ye, Peide D.; Liu, Xiaoyan; Zhao, Yi 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2017/12/03 Germanium MOSFETs  ballistic transport  pulsed IV  GeOI  self-heating effect  P-CHANNEL   不同杀虫(螨)剂对蔬菜叶螨的田间防效评价 期刊论文 中国蔬菜, 2010, 期号: 04, 页码: 71-74 作者:  王少丽;  王然;  张友军;  徐宝云;  吴青君 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2017/04/17 叶螨  杀虫(螨)剂  田间防效   Duty-cycle-accelerated hot-carrier degradation and lifetime evaluation for 700V lateral DMOS 会议论文 2018 IEEE 30th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), Chicago, IL, USA, 2018 作者:  Siyang Liu;  Zhichao Li;  Wangran Wu;  Weifeng Sun;  Shulang Ma 收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2019/12/25