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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序作者升序作者降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序 Smart Scanning Ion-Conductance Microscopy Imaging Technique Using Horizontal Fast Scanning Method 期刊论文 MICROSCOPY AND MICROANALYSIS, 2018, 卷号: 24, 页码: 264-276 作者:  Zhuang, Jian;  Wang, Zhiwu;  Li, Zeqing;  Liang, Pengbo;  Vincent, Mugubo 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/11/26 imaging stability  scanning ion-conductance microscopy (SICM)  imaging speed  living cells  transverse-fast scanning mode (TFSM)