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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序作者升序作者降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序 A novel two-step chemical passivation process for CdZnTe detectors 期刊论文 SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2005, 卷号: 20, 页码: 343-346 作者:  Sang, WB[1];  Wang, KS[2];  Min, JH[3];  Teng, JY[4];  Zhang, Q[5] 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/05/10 Primary study on the contact degradation mechanism of CdZnTe detectors 期刊论文 NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT, 2004, 卷号: 527, 页码: 487-492 作者:  Sang, WB[1];  Wei, J[2];  Qi, Z[3];  Li, WW[4];  Min, JH[5] 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/05/10 cadmium zinc telluride  electrical contacts  degradation  gamma-ray detectors   A novel surface passivation process for CdZnTe detector packaging 会议论文 Proceedings of the Sixth IEEE CPMT Conference on High Density Microsystem Design and Packaging and Component Failure Analysis, HDP'04, 2004-06-30 作者:  Sang, WB[1];  Wei, J[2];  Qi, Z[3];  Min, JH[4];  Zhang, ML[5] 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2019/05/10 Detector Packaging  CdZnTe Detector  diamond like carbon  passivation   Stress analysis in silicon die under different types of mechanical loading by finite element method (FEM) 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON ADVANCED PACKAGING, 2002, 卷号: 25, 页码: 522-527 作者:  Yu, F[1];  Sang, WB[2];  Pang, EW[3];  Liu, DH[4];  Teng, JY[5] 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/05/11 failure stress  finite element analysis (FEA)  silicon die  vfBGA