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Duty-cycle-accelerated hot-carrier degradation and lifetime evaluation for 700V lateral DMOS
会议论文
2018 IEEE 30th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), Chicago, IL, USA, 2018
作者:
Siyang Liu
;
Zhichao Li
;
Wangran Wu
;
Weifeng Sun
;
Shulang Ma
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提交时间:2019/12/25
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