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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Analysis of Reliability of Functional Nodes of Digital VLSI Circuits with Structural Redundancy and Periodic Operational State Recovery. 期刊论文 Information & Control Systems / Informazionno-Upravlyaushie Sistemy, 2013, 卷号: Vol.63 No.2, 页码: 18-23 作者:  Maximenko,S.L.;  Melekhin,V.F. 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2020/01/04 RADIATION  damage  RESEARCH  DIGITAL  electronics  INTEGRATED  circuits  INFORMATION  resources  management  MATHEMATICAL  models  RELIABILITY