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Soft Error Susceptibility Analysis for Sequential Circuit Elements Based on EPPM
期刊论文
Journal of Semiconductor Technology and Science, 2015, 卷号: Vol.15 No.2, 页码: 168-176
作者:
Cai, Shuo
;
Kuang, Ji-Shun
;
Liu, Tie-Qiao
;
Wang, Wei-Zheng
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提交时间:2019/12/31
Soft
error
sequential
circuit
elements
susceptibility
error
propagation
probability
matrix
union
operation
Test data compression method for multiple scan chain based on mirror-symmetrical reference slices
期刊论文
Journal of Electronics and Information Technology, 2015, 卷号: Vol.37 No.6, 页码: 1513-1519
作者:
Kuang, Ji-Shun
;
Liu, Jie-Tang
;
Zhang, Liang
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/31
Reliability calculation method of logical circuit based on bernoulli distribution
期刊论文
Acta Electronica Sinica, 2015, 卷号: Vol.43 No.11, 页码: 2292-2297
作者:
Cai, Shuo
;
Kuang, Ji-Shun
;
Liu, Tie-Qiao
;
Ling, Chun-Qing
;
You, Zhi-Qiang
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/12/31
Adaptive EFDR coding method for test data compression
期刊论文
Journal of Electronics and Information Technology, 2015, 卷号: Vol.37 No.10, 页码: 2529-2535
作者:
Kuang, Ji-Shun
;
Zhou, Ying-Bo
;
Cai, Shuo
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提交时间:2019/12/31
Soft error susceptibility analysis for sequential circuit elements based on EPPM
期刊论文
Journal of Semiconductor Technology and Science, 2015, 卷号: Vol.15 No.2, 页码: 168-176
作者:
Cai, Shuo
;
Kuang, Ji-Shun
;
Liu, Tie-Qiao
;
Wang, Wei-Zheng
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/31
Reliability estimation for soft error of sequential circuit based on error propagation probability matrix
期刊论文
Chinese Journal of Computers, 2015, 卷号: Vol.38 No.5, 页码: 923-931
作者:
Cai, Shuo
;
Kuang, Ji-Shun
;
Zhang, Liang
;
Liu, Tie-Qiao
;
Wang, Wei-Zheng
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2019/12/31
Reliability calculation method of logic circuits considering signal correlation
期刊论文
Acta Electronica Sinica, 2014, 卷号: Vol.42 No.8, 页码: 1660-1664
作者:
Cai, Shuo
;
Kuang, Ji-Shun
;
Liu, Tie-Qiao
;
Wang, Wei-Zheng
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提交时间:2019/12/31
An efficient reliability estimation method for gate-level circuit
期刊论文
Journal of Electronics and Information Technology, 2013, 卷号: Vol.35 No.5, 页码: 1262-1266
作者:
Cai, Shuo
;
Kuang, Ji-Shun
;
Liu, Tie-Qiao
;
Zhou, Ying-Bo
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提交时间:2020/01/05
Parallel On-line Testing for Digital Microfluidic Biochip
期刊论文
Journal of Shanghai Jiaotong University, 2013, 卷号: Vol.47 No.1, 页码: 98-102,107
作者:
Zhang, Ling
;
Kuang, Ji-Shun
;
Lin, Jing
;
Mei, Jun-Jin
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提交时间:2020/01/05
Virtual scan chains reordering using a RAM-based module for high test compression
期刊论文
Microelectronics Journal, 2012, 卷号: Vol.43 No.11, 页码: 869-872
作者:
Ling, Zhang
;
Ji-Shun, Kuang
;
Zhi-Qiang, You
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提交时间:2020/01/05
Scan chain reorder
Test compression
Scan chain partition
Virtually reorder
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