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Anomalous annealing of floating gate errors due to heavy ion irradiation
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2018, 卷号: 418, 页码: 80-86
作者:
Hou, Mingdong
;
Zhao, Peixiong
;
Luo, Jie
;
Ji, Qinggang
;
Ye, Bing
收藏
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浏览/下载:59/0
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提交时间:2018/05/31
Annealing
Flash memories
Heavy ions
Multiple cell upsets
Radiation effects
Size effect of oxygen reduction reaction on nitrogen-doped graphene quantum dots
期刊论文
RSC ADVANCES, 2018, 卷号: 8, 期号: 1, 页码: 531-536
作者:
Zhang, Peng[1]
;
Hu, Qiang[2]
;
Yang, Xuejing[3]
;
Hou, Xiuli[4]
;
Mi, Jianli[5]
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/12/24
First-principles design of bifunctional oxygen reduction and evolution catalysts through bimetallic centers in metal-organic frameworks
期刊论文
CATALYSIS SCIENCE & TECHNOLOGY, 2018, 卷号: 8, 期号: 14, 页码: 3666-3674
作者:
Zhang, Peng[1]
;
Yang, Xuejing[2]
;
Gao, Wang[3]
;
Hou, Xiuli[4]
;
Mi, Jianli[5]
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/12/24
Robust H��control of non-cooperative rendezvous based on ��-D method
会议论文
Chinese Intelligent Systems Conference, CISC 2017, Mudanjiang, China, 2017-10-14
作者:
Hou, Mingdong
;
Jia, Yingmin
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/30
A comparison of heavy ion induced single event upset susceptibility in unhardened 6T/SRAM and hardened ADE/SRAM
会议论文
作者:
Yan, Weiwei
;
Wang, Bin
;
Zeng, Chuanbin
;
Geng, Chao
;
Liu, Tianqi
收藏
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浏览/下载:43/0
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提交时间:2018/08/20
Heavy ion irradiation
Single event upset
Active delay element
SRAM cell
Radiation hardened
Silicon-on-insulator
Influence of heavy ion flux on single event effect testing in memory devices
会议论文
作者:
Xi, Kai
;
Luo, Jie
;
Liu, Jie
;
Sun, Youmei
;
Hou, Mingdong
收藏
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浏览/下载:17/0
  |  
提交时间:2018/08/20
Swift heavy ions
Ion flux
Single event effect
Memory device
Influence of heavy ion flux on single event effect testing in memory devices
会议论文
作者:
Xi, Kai
;
Sun, Youmei
;
Luo, Jie
;
Liu, Jie
;
Liu, Tianqi
收藏
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2018/08/20
Swift heavy ions
Ion flux
Single event effect
Memory device
A comparison of heavy ion induced single event upset susceptibility in unhardened 6T/SRAM and hardened ADE/SRAM
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2017, 卷号: 406, 页码: 437-442
作者:
Wang, Bin
;
Zeng, Chuanbin
;
Geng, Chao
;
Liu, Tianqi
;
Khan, Maaz
收藏
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浏览/下载:39/0
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提交时间:2018/05/31
Heavy ion irradiation
Single event upset
Active delay element
SRAM cell
Radiation hardened
Silicon-on-insulator
Influence of heavy ion flux on single event effect testing in memory devices
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2017, 卷号: 406, 页码: 431-436
作者:
Luo, Jie
;
Liu, Jie
;
Sun, Youmei
;
Hou, Mingdong
;
Xi, Kai
收藏
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2018/05/31
Swift heavy ions
Ion flux
Single event effect
Memory device
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