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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Recovering the absolute phase maps of three selected spatial-frequency fringes with multi-color channels. 期刊论文 NEUROCOMPUTING, 2017 作者:  Yi Ding;  Jiangtao Xi;  Yanguang Yu;  Fuqin Deng;  Jun Cheng 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2018/02/02 Recovering the absolute phase maps of three selected spatial-frequency fringes with multi-color channels 期刊论文 NEUROCOMPUTING, 2017, 卷号: 252 作者:  Ding, Yi;  Xi, Jiangtao;  Yu, Yanguang;  Deng, Fuqin;  Cheng, Jun 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/12/05 Instrumentation  Measurement and metrology  Three-dimensional image acquisition  Phase measurements  Color channels   Multiple spatial-frequency fringes selection for absolute phase recovery 期刊论文 Surface Topography: Metrology and Properties, 2016 作者:  Yi Ding;  Jiangtao Xi;  Yanguang Yu;  Fuqin Deng 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2017/01/13 Three-dimensional surface inspection for semiconductor components with fringe projection profilometry 期刊论文 OPTICAL METROLOGY AND INSPECTION FOR INDUSTRIAL APPLICATIONS IV, 2016, 卷号: 10023 作者:  Deng, Fuqin;  Ding, Yi;  Peng, Kai;  Xi, Jiangtao;  Yin, Yongkai 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/16 Absolute phase recovery of three fringe patterns with selected spatial frequencies 期刊论文 OPTICS AND LASERS IN ENGINEERING, 2015 作者:  Ding Yi;  Xi Jiangtao;  Yu Yanguang;  Deng Fuqin 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2016/01/27 Three-dimensional surface inspection for semiconductor components with fringe projection profilometry (CPCI-S收录) 会议 作者:  Deng, Fuqin[1];  Ding, Yi[2];  Peng, Kai[2];  Xi, Jiangtao[3];  Yin, Yongkai[4] 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2019/04/11