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西安光学精密机械研究... [2]
内容类型
专利 [2]
发表日期
2015 [2]
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包括干涉仪和限定密集线谱的吸收介质的测量设备
专利
专利号: CN104285125A, 申请日期: 2015-01-14, 公开日期: 2015-01-14
作者:
T·鲁斯
;
B·伯克姆
;
伊斯·萨尔瓦德
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提交时间:2020/01/18
包括干涉仪和绝对距离测量单元的激光跟踪器和用于激光跟踪器的校准方法
专利
专利号: CN104285160A, 申请日期: 2015-01-14, 公开日期: 2015-01-14
作者:
T·鲁斯
;
B·伯克姆
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提交时间:2020/01/18
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